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    光學(xué)視角檢測儀—近紅外光源測量

    簡要描述:光學(xué)視角檢測儀—近紅外光源測量,低成本和緊湊的3D成像技術(shù)在人臉識(shí)別、機(jī)器視覺或激光雷達(dá)等各種應(yīng)用領(lǐng)域的巨大發(fā)展,對近紅外光源的表征提出了新的要求。在任何情況下,為了獲得精確的三維圖像,必須對其所有角度孔徑范圍內(nèi)的光源發(fā)射特性進(jìn)行精確表征和快速測量。

    • 產(chǎn)品型號(hào):
    • 廠商性質(zhì):代理商
    • 更新時(shí)間:2022-04-12
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    詳細(xì)介紹
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    應(yīng)用領(lǐng)域生物產(chǎn)業(yè),電子/電池光學(xué)視角檢測儀近紅外光源測量

    光學(xué)視角檢測儀—近紅外光源測量

    低成本和緊湊的3D成像技術(shù)在人臉識(shí)別、機(jī)器視覺或激光雷達(dá)等各種應(yīng)用領(lǐng)域的巨大發(fā)展,對近紅外光源的表征提出了新的要求。在任何情況下,為了獲得精確的三維圖像,必須對其所有角度孔徑范圍內(nèi)的光源發(fā)射特性進(jìn)行精確表征和快速測量。












    光學(xué)視角測試儀VCProbe-NIR-STG是為近紅外中發(fā)光的DUT分析而優(yōu)化的。 光學(xué)視角測試儀VCProbe-NIR-STG的設(shè)計(jì)是為了精確測量泛光照明器件、立體成像、結(jié)構(gòu)光照明器件的特性。  

    光學(xué)視角測試儀VCProbe-NIR-STG是測量小孔徑近紅外源的理想工具,并為近紅外源如LED和激光器提供了一個(gè)有效的測量解決方案。

    該系統(tǒng)可以在±70°視角錐內(nèi)獲得完整的地圖,具有良好的角度分辨率,工作距離為4mm,允許非接觸式測量。

    推薦用于2.5 mm初始光瞳發(fā)射器。

    DXY +/- 1mm的重復(fù)誤差優(yōu)于1%的位置,便于在線定位。

    光學(xué)視角檢測儀VCProbe-NIR-STG校準(zhǔn)波長為940 nm,可用于研發(fā)和批量生產(chǎn)/質(zhì)檢應(yīng)用,實(shí)現(xiàn)高速和精確的測量。



    光學(xué)視角測試儀VCProbe-NIR-DSD是專門為精確測量近紅外源的小孔徑而設(shè)計(jì)的。該系統(tǒng)可以測量激光雷達(dá)、閃光激光雷達(dá)、激光二極管和VCSEL等各種光源。

    該系統(tǒng)具有非接觸式測量,在一次測量中,產(chǎn)生±32°的視角,提供了顯著的0.05°的角度分辨率。
    這是一個(gè)為單個(gè)VCSEL優(yōu)化的系統(tǒng),工作距離為40mm。光學(xué)視角檢測儀VCProbe-NIR-DSD允許高速和精確的測量應(yīng)用研發(fā)以及批量生產(chǎn)/質(zhì)檢。

    光學(xué)視角測試儀型號(hào)規(guī)格:

    規(guī)格VCProbe-NIR-STGVCProbe-NIR-DSD
    STG-1STG-2
    波長絕對強(qiáng)度Calibrated at 940 nm(*)Calibrated at 850 nm - 905 nm -   940 nm
    視場角入射角±70°±32°
    方位角0-360°0-360°
    工作距離\3.2 mm4 mm40 mm
    性能光學(xué)分辨率0.05°0.03°
    線性化數(shù)據(jù)\2801*2801   pixels
    光闌尺寸樣本優(yōu)化\0.5mm / 1mm / 2.5mm
    聚焦距離\100mm1000mm
    精度輻射 (W/sr/m2)±2%±2%
    功率(W)±1%±1%
    節(jié)拍時(shí)間曝光時(shí)間300ms - 30 s300ms   - 30s
    處理傳輸時(shí)間Less   than 1 sLess   than 1 s
    可選近紅外發(fā)射體脈沖同步、速率和寬度測量
    溫度穩(wěn)定的傳感器

    光學(xué)視角檢測儀—近紅外光源測量


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