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    通訊領域光束分析儀

    簡要描述:通訊領域光束分析儀主要用于測量850nm,1310nm和1550nm等通訊波長的激光光束的光斑大小、橢圓度、能量分布、發散角、功率以及指向穩定性等,實時監測光束形狀以及變化。

    • 產品型號:
    • 廠商性質:代理商
    • 更新時間:2021-06-02
    • 訪  問  量:3723
    詳細介紹
    品牌其他品牌產地類別國產

    通訊領域光束分析儀

    為了滿足通訊領域中廣大客戶的需求,并提高客戶的工作效率和降低客戶的生產成本,德國有名光束分析儀廠商Cinogy公司設計生產了專門用于通訊領域的CinAlign光束分析儀和近場光束分析儀,主要用于測量850nm,1310nm和1550nm等通訊波長的激光光束的光斑大小、橢圓度、能量分布、發散角、功率以及指向穩定性等,實時監測光束形狀以及變化。

     

     

    關鍵詞:光束分析儀,近場光束分析儀,聚焦光束測量儀,聚焦光輪廓分析儀,通訊領域光束分析儀,光束質量分析儀,實時準直系統,實時光斑準直測量系統

     

     

     

     

    一、   CinAlign光束分析儀 – 用于測量準直或者較大光斑的激光光束

     

    德國CINOGY公司為通訊領域客戶專門設計生產的CinAlign光束分析儀,主要是用于測量準直的或者較大光斑的激光光束的光斑大小、橢圓度、能量分布、發散角、功率以及指向穩定性等。CinAlign主要分為CinCam CMOS-1202和CinCam CMOS-1201-IR兩種相機,基本涵蓋了所有通訊波長,其響應波長范圍為320~1610nm,主要用于測量850nm、1310nm和1550nm等通訊波長的激光器。CinAlign測量的激光光斑范圍為52um~4mm,兼容測量連續以及脈沖激光器。

     

     

    特點:

     

    1.  測量的波長范圍:400~1610nm

    2.  測量的光斑大小:52um~4mm

    3.  實時監控光斑形狀以及變化

    4.  分辨率高,高準確度

    5.  測量激光光束的光斑大小、橢圓度、能量分布、發散角、功率以及指向穩定性等

     

    主要技術指標:

     

     

    相機型號

    Cin

    am CMOS-1202

    CinCam CMOS-1201-IR

    規格

    1/1.8’’

    1/2’’

    通光孔徑

    6.8mm x 5.4mm

    6.7mm x 5.3mm

    分辨率

    1280x 1024

    1280x 1024

    像素大小

    5.3um x 5.3um

    5.2um x 5.2um

    波長范圍

    400~1350nm

    1470~1610nm

    位深

    8Bit

    8Bit

    動態范圍

    >62dB

    >61dB

    接口

    USB2.0

    USB2.0

    模式

    連續和脈沖

    連續

    尺寸(HxL)

    40mm x 40mm x 20mm

    40mm x 40mm x 20mm

    分析軟件

    RayCi-Lite/Standard/Pro

     

     

    主要軟件視圖:

    (詳細可參考RayCi分析軟件介紹)

     

    1.  光斑/橢圓度的測量

     

     

    2.  光束參數/能量分布

     

     

    3.  發散角的測量

     

     

     

    二、   近場光束分析儀 – 用于測量近場/聚焦激光光束

     

    德國CINOGY公司為通訊領域客戶專門設計生產的近場光束分析儀,主要是用于測量近場/聚焦光束的焦點光斑大小、焦距、發散角、功率以及指向穩定性等。該系統集成了CinCam CMOS光束分析儀,確保了測量的準確性。測量波長范圍為320~1610nm,基本涵蓋了所有通訊波長,一般主要用于測量850nm、1310nm和1550nm等通訊波長。近場光束分析儀系統主要由顯微鏡和CinCam CMOS光束分析儀組成,其可測量的聚焦的光斑zui小可達1.1um。另外,該系統為一個開放式光束分析儀系統,其中的CinCam CMOS光束分析儀可取下使用,用于測量準直的或者較大光斑的光束(zui大測量光斑為4mm)。

     

    特點:

    1.  測量的波長范圍:320~1610nm

    2.  測量的光斑大小:1.1um~4mm

    3.  實時監控光斑形狀以及變化

    4.  分辨率高,高準確度

    5.  測量焦點位置的光斑大小、發散角、功率以及指向穩定性等

     

     

    技術指標:

     

     

    規格

    10x System

    20x System

    40x System

    波長范圍

    320~1350nm,1470~1610nm

    工作距離(mm)

    10

    3.3

    0.6

    焦距(mm)

    15.26

    8.55

    4.39

    可替換的衰減片

    OD1.0~OD5.0

    光學分辨率(um)

    1.5

    1.2

    1

    光斑大小(um):

    CMOS1201

    CMOS1202

    CMOS1203

    ~5.2-267

    ~5.3-272

    ~4.5-270

    ~2.6-134

    ~2.6-136

    ~2.3-135

    ~1.3-67

    ~1.3-68

    ~1.1-67

    視場(um):

    CMOS 1201

    CMOS 1202

    CMOS 1203

    666 x 533

    678 x 543

    720 x 540

    333 x 267

    339 x 272

    360 x 270

    167 x 134

    170 x 136

    180 x 135

    zui大輸入功率

    100mW

    分析軟件

    RayCi-Lite/Standard/Pro

     

    主要軟件視圖:

    (詳細可參考RayCi分析軟件介紹)

     

     

    1.  焦點位置的光斑/功率/指向穩定性的測量

     

     

    2.  發散角的測量

      

    主要配件:

    1    衰減片和衰減器

    2    縮束鏡

    手動/自動導軌

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