膜厚測量儀的眾多分類以及在使用時需要注意的情況

　　一、測量儀分類

　　1.激光測厚儀

　　激光測厚儀是才采用了激光反射原理制造而成，屬于一種非接觸式的厚度測量儀器，主要用來對各種零件以及機械表面的進行微觀測量，從而得出物件的厚度。

　　并且該種測量儀能夠與電腦終端相連接，直接將物體的厚度以數字形式進行輸出，簡便快捷，適用性高，在各行業都可以看見它的身影。

　　2.X射線厚度測量儀

　　該型厚度測量儀的原理是利用X射線子穿過物體之后，其強弱程度造成變化，并通過靈敏的感應元件和計算機對X射線的照射前后的強度進行對比，也屬于一種非接觸式測量儀器。該測量儀器主要應用于有色金屬板加工和冶金行業。

　　3.膜厚測量儀

　　膜厚主要對各種薄膜的厚度進行測定，測量速度快、精度高，在薄膜制造業有著很重要的應用。除此之外，它還具有作業位置靈活、數據輸出、測量單位自動轉換等特性，更是方便了人們的測量工作。

　　4.超聲波測量儀

　　超聲波測量儀采用了聲波反射原理制作而成。當聲波抵達被測物件表面時，會被反射回來并通過測量儀所接收，在測量儀內部含有微型計算機，能夠計算聲波發出及反射后的時間差，之后通過一系列的計算來得出物體的厚度。

　　二、使用時的注意事項

　　1.零點校準

　　膜厚測量儀在對薄膜厚度測量之前，需要進行零點校準，對于校準的基體材料可以采用沒有涂層的材料進行校驗，這樣可以在大程度上消除物體形狀以及表面的粗糙而帶來的誤差。

　　2.基體不宜過薄

　　在基體的選擇上不能選擇厚度過薄的集體材料，因為測量儀可能無法測量出基體的厚度而造成了厚度測量精準度的下降。

　　在本文中跟大家詳細的介紹了膜厚測量儀的分類以及使用時的注意事項，希望大家日后使用測量儀設備時可以注意這幾點，以便高效率的使用測量儀設備。